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透射电子显微镜(JEM-2100Plus)试运行公告

首页|必赢app下载_手机APP下载科研公共服务条件平台透射电子显微镜(JEM-2100Plus)已经安装调试完毕,即日起对校内开放试运行,欢迎校内师生预约测试!

一、基本参数

型号:JEM-2100Plus

厂家:日本电子株式会社(JEOL)

灯丝类型:LaB6

加速电压:80 – 200 kV

线分辨率:0.14 nm

放大倍数:x30 – 1.5 M

相机:JEOL Flash相机

能谱:JED2300(60 mm2

二、应用领域

透射电子显微镜(TEM)因具有较高分辨率,较好的微区分析能力,被广泛用于金属材料、半导体材料、有机复合材料等的形貌拍摄和结构表征。JEM-2100Plus采用多级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束,大大提高了分析和衍射成像能力。配备有日本电子JED2300特征X射线能谱探测器,用于定性分析材料元素组分,以及半定量分析各元素含量。JEM-2100Plus在材料的形貌拍摄、晶体结构表征、成分分析等方面可以发挥出重要作用。

预约请登录:http://facility.whu.edu.cn

地点:首页|必赢app下载_手机APP下载尖端科技楼101B

联系人:曾老师15827562929;李老师13163286278


发布单位: 科研公共服务条件平台

发布日期: 2022-04-28